MX-IR/BX-IR 紅外顯微鏡——可觀察 IC 內(nèi)部的近紅外（IR）觀察專用機型。可搭載在可見光到近紅外范圍內(nèi)都進行了像差補正的 IR 專用物鏡，可輕松地觀察 IC 內(nèi)部。根據(jù)樣品的大小與用途，用戶可選擇 MX 或 BX 系列產(chǎn)品。● 可以實現(xiàn)以非破壞的方式觀察半導(dǎo)體器件內(nèi)部。● 可適用明場、近紅外觀察。
